池田理化オンラインカタログ

自動化原子間力顕微鏡
FX40

パーク・システムズ・ジャパン

Park FX40 写真1

Park FX40 写真2

Park FX40 写真3

Park FX40 | 次世代の新機能を搭載した原子間力顕微鏡(AFM)

リサーチ向けの自動化AFM
前例のないスピードと精度で科学的発見と進歩を後押し
従来手動で行っていたプローブ交換やビームアライメント、サンプルの位置調整等を
自動化した次世代の最新自動化原子間力顕微鏡です。
研究用ハイエンドの小型AFMとして、これまでの基本設計要素を維持しながら、
高精度のデータを容易に取得できます。

特長

  • スキャン開始までの作業を全て自動化
  • 研究用AFM史上初のデュアルカメラ方式
  • 多彩な測定モードとオプションをサポート
  • 試料:最大4個
    
型式・型番 Park FX40
標準測定 真のノンコンタクトモードTM、タッピングモード、コンタクトモード、磁気力顕微鏡(MFM)、圧電応答力顕微鏡(PFM)、圧電応答スペクトロスコピー、ケルビンプローブ顕微鏡(KPFM)、静電力顕微鏡(EFM)、ダイナミックコンタクト静電力顕微鏡(DC-EFM)、PinPointTMナノメカニカルモード、フォースモジュレーション顕微鏡(FMM)、ナノインデンテーション、水平力顕微鏡(LFM)、F/Dスペクトロスコピー、フォースボリュームイメージング、ばね定数校正
オプション測定 磁場調整式磁気力顕微鏡(TM-MFM)、高圧電応答力顕微鏡、コンダクティブAFM(C-AFM)、I/Vスペクトロスコピー、高電圧ケルビンプローブ顕微鏡、走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)、走査型広がり抵抗顕微鏡(SSRM)、走査型トンネリング顕微鏡(STM)、走査型トンネリングスペクトロスコピー(STS)、フォトカレントマッピング(PCM)、I/Dスペクトロスコピー、ナノリソグラフィー、高電圧ナノリソグラフィー、ナノマニピュレーション、走査型サーマル顕微鏡(SThM)
サイズ・重量 本体W700×D800×H1350mm 360kg(※アコースティックエンクロージャーを含む)
電源 100V 10A 50/60Hz
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