池田理化オンラインカタログ

多機能電子顕微鏡
JEM-F200

日本電子

電源確認

JEM-F200

機械的・電気的な安定性が大きく向上
空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を
考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで
思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減を
コンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。

特長

  • 4段集束レンズによる新照射光学系『Quad-Lens condenser system』搭載
  • 結像系電子線操作機能『Advanced Scan system』
  • ピコメートルオーダーで視野移動可能
  • 自動ホルダー挿入・取り出し装置『SPECPORTER』
  • 冷陰極電界放出形電子銃も搭載可能
  • 大口径シリコンドリフト検出器(SDD)を2本同時搭載可能
  • エコモード搭載
    
型式・型番 JEM-F200(超高分解能) JEM-F200(高分解能)
TEM粒子像 0.19nm 0.23nm
STEM-HAADF像 0.14nm(冷陰極電界放出形電子銃搭載時)
0.16nm(ショットキー電界放出形電子銃搭載時)
0.16nm(冷陰極電界放出形電子銃搭載時)
0.16nm(ショットキー電界放出形電子銃搭載時)
加速電圧 200kV, 80kV
主なオプション エネルギー分散形X線分光器(EDS)
電子線エネルギー損失分光器(EELS)
デジタルカメラ
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