池田理化オンラインカタログ

ラインスキャン膜厚計
LS series

大塚電子

ラインスキャン・インラインタイプ

ラインスキャンイメージ

解析結果画面

ラインスキャン製品紹介動画はコチラ

検量線不要の全面フイルム膜厚検査
リアルタイムで全長・全幅のムラが一目で分かる
インラインでのフイルム生産現場においてフイルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。
独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフイルムの膜厚測定が可能です。
研究開発や品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な卓上装置もございます。

特長

  • ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現
  • 膜厚測定範囲:0.1〜300μm
  • 最短1msで500mm幅の膜厚測定が可能
  • 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
  • 高速・高精度に測定が可能
  • バタつきに強い光学系を採用
  • 幅広のサンプルにも対応可能(TD方向に最大10m測定可能)
  • ハード・ソフト共にオリジナル設計
    
型式・型番 インラインタイプ オフラインタイプ
膜厚測定範囲 0.1〜300μm
測定幅 TD:500mm〜最大10m × MD:1mm TD:250mm × MD:1mm
測定間隔 1ms〜
サイズ・重量 W81×D140×H343mm W459×D609×H927mm
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