池田理化オンラインカタログ

研究用原子間力顕微鏡
NX10

パーク・システムズ・ジャパン

NX10(本体のみ)

最も正確で使いやすいAFM
様々な表面特性の計測
独立したXY/Z軸のスキャナを搭載し、水平方向に歪みのない表面形状を、最も正確に取得できる原子間力顕微鏡です。完全非接触な真のノンコンタクトモード™により、試料表面を傷つけず、探針の消耗無しに高い繰返し精度を実現します。

特長

  • nmオーダーの表面測定
    低ノイズZディテクターにより正確なトポグラフィー像
  • 真のノンコンタクトモード™による測定
    非接触なのでサンプルを傷つけず、最高のチップ寿命を実現
  • 使い勝手の良いユーザーインターフェース
    チップ交換はワンタッチ、容易なオペレーションを提供するSmartScan
    
型式・型番 NX10
標準測定 ノンコンタクト/コンタクト/タッピングモード、摩擦力顕微鏡(LFM)、
位相イメージング、ピンポイントモード
オプション測定 化学特性、誘電/圧電測定、力測定、磁気特性、光学特性、電気測定、
機械特性、熱特性、液中測定、スキャニングイオンコンダクタンス顕微鏡
サイズ・重量 本体 W700×D800×H1300mm 300kg
電源 100V 10A 50/60Hz
価格 お問い合わせください
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※アコースティックエンクロージャー含む

※価格及び製品仕様は予告なく変更されることがあります。
※価格に消費税は含まれておりません。
※日本国内への販売に限らせていただきます。また、製品によっては、当社から直接販売ができない地域がございます。
※会社名及び製品名は各社の商標または登録商標です。
※製品の設置状況や付加機能を分かりやすく表現するため、製品に含まれない商品をあわせて掲載している場合があります。
※表示金額以外に運送費、荷造費、搬入・据付費、組立設置費などを別途加算させていただくことがございます。

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