池田理化オンラインカタログ

電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT810

日本電子

ガス使用電源確認

走査電子顕微鏡 JSM-IT810

自動化技術の活用で装置調整、観察、分析まで業務効率向上
JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム""Neo Engine""と、ZeromagやEDSインテグレーションなどの高い操作性を実現する""SEM Center""を搭載しています。さらに自動観察・分析機能""Neo Action""や自動校正機能は効率性や生産性の向上だけでなく、労働力不足の解消に貢献します。
対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズ〈HL〉、より高分解能観察や分析を可能にするスーパーハイブリッドレンズ〈SHL〉、対物レンズの下部に強い磁場レンズを形成するセミインレンズ〈SIL〉をラインナップしており、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。

特長

  • 自動観察分析機能"Neo Action"
    直感的な操作で、誰でも簡単にSEM観察やEDS分析を自動化することができます。
  • SEM自動調整パッケージ
    専用の試料を用いて倍率調整・軸調整・EDSエネルギーキャリブレーションを行う機能です。
    定期的なチェックを行い装置を常に良好な状態にすることができます。
  • Live-3D機能
    5分割の半導体検出器素子により、信号選別ができます。4方向から取得した二次元像を用いると三次元像を再構築することができます。
    あらたに搭載したLive-3D機能により、Live像で凹凸を確認しながら測定することができます。
  • EDSインテグレーション
    SEMによる観察とEDSによる元素分析の壁を感じさせない次世代の操作性を実現。
    点、エリア、MAP、線など様々な分析方法を観察画面上に直接予約でき、すぐに分析を開始できます。

    
型式・型番 JSM-IT810
(HL)
JSM-IT810
(SIL STANDARD)
JSM-IT810
(SIL PRIME)
JSM-IT810
(SHL STANDARD)
JSM-IT810
(SHL PRIME)
分解能 0.7nm(20kV)
1.3nm(1kV)
3.0nm(15kV、5nA、WD10mm)
0.6nm(15kV)
1.0nm(1kV)
3.0nm(15kV、5nA、WD8mm)
0.5nm(15kV)
0.7nm(1kV)
3.0nm(15kV、5nA、WD8mm)
0.6nm(15kV)
1.1nm(1kV)
3.0nm(15kV、5nA、WD10mm)
0.5nm(15kV)
0.7nm(1kV)
0.9nm(300V)
3.0nm(5kV、5nA、WD10mm)
倍率 写真倍率:×10~1,000,000(128×96mm表示時)
表示倍率:×27~2,740,000(1,280×960画素表示時)
写真倍率:×25~2,000,000
(128×96mm表示時)
表示倍率:× 69~5,480,000
(1,280×960画素表示時)
写真倍率:×10~2,000,000
(128×96mm表示時)
表示倍率:×27~5,480,000
(1,280×960画素表示時)
加速電圧 0.01~30kV
標準検出器 二次電子検出器(SED)
上方電子検出器(UED)
二次電子検出器(SED)
上方インレンズ検出器(UID)
二次電子検出器(SED)
上方インレンズ検出器(UID)
上方電子検出器(UED)
二次電子検出器(SED)
上方ハイブリッド検出器(UHD)
対物レンズ ハイブリッドレンズ セミインレンズ スーパーハイブリッドレンズ
分析機能
(オプション一例)
EDS
Windowless EDS
SXES
EBSD
CL
STEM
EDS
Windowless EDS
Raman
CL
STEM
EDS
Windowless EDS
SXES
EBSD
CL
STEM
主な用途 (例) 磁性体
広域EBSD
半導体デバイス解析 磁性体
EBSD
生物(アレイトモグラフィ、CLEM)

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