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小型プローブ顕微鏡AFM100シリーズ
AFM100/100 Plus

日立ハイテク

電源確認

AFM100 Plus

操作性を追求し、スループットの向上を実現した原子間力顕微鏡
日立ハイテクの走査型電子顕微鏡SEMとの親和性を高めて登場
「トータルスループットの向上」と「得られたAFMデータの不安を払拭」
多くのAFMユーザが求めるもの、それは「トータルスループットの向上」と「得られたAFMデータの不安を払拭」です。測定装置のトータルスループットの向上とデータ信頼性の向上は、一つの機能だけでは改善しません。
日立ハイテクでは、測定準備の作業性を向上させると共にデータ信頼性の向上を実現すべく『サンプリングインテリジェンススキャンモード（SIS Mode）』『測定パラメータ自動調整機能（Real TuneⅡ）』などの活用により測定パラメータの最適化を図ることで、トータルスループットの向上と信頼性の高いAFMデータ取得を実現。またAFMマーキング機能によりSÆMic.（AFM-SEM相関顕微鏡法）に対応することで多角的な解析の機会が広がります。

特長

  • 「ワンクリック」での測定から解析を実現するオートパイロット機能
  • 「データ信頼性」の向上を実現する先進モード（SIS mode）と測定パラメータ自動調整機能（Real TuneⅡ）
  • 「多角的な解析」を実現するSÆMic.（AFM-SEM相関顕微鏡法）に対応
　　　　
型式・型番 AFM100 AFM100 Plus
測定対応環境 大気、液中※1、加熱（室温～250℃）※1、液中加熱（室温～60℃）※1
標準測定 AFM、DFM、位相、摩擦力（FFM）、フォースカーブ
オプション測定 SIS-ACCESS※1、SIS-Quantimech※1、PicoSTM※1、機械物性システム※1（LM-FFM、VE-AFM、Adhesion）
電気物性Ⅰ※1（MFM、KFM：AM/FM、EFM：AC/DC、PRM）
電気物性Ⅱ※1（SSRM、Current：Nano/Pico）
その他機能 熱源抑制構造、インパクトステージ※1、探針評価機能、オートパイロット機能、自動パラメータ調整機能、
オートゲイン機能、セルフチェック機能、ソフトウェアダウンロードサービス、AFMマーキング※1、
100Vバイアス増設BOX※1、シグナルアクセスモジュール※1、拡張IOケーブル※1
電源 AC100V±10V　15A　1系統　D種接地　接地付コンセント
価格※2 ¥12,750,000～ ¥15,250,000～
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※2：AFM100はデスクトップ仕様価格、AFM100 Plusは架台付き除振台仕様価格

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