池田理化オンラインカタログ

エネルギー分散型X線分析装置
Element

日立ハイテク

TM4000PlusⅡ+Element

観察・分析フローをオールインワンで!
日立卓上顕微鏡Miniscope®︎専用のエネルギー分散型X線分析装置です。(検出器内蔵)

特長

  • 据置型SEM用EDSの性能を卓上顕微鏡へ
    上位機種で採用されていたElementをTM4000Ⅱから搭載できるようになりました。
  • 高感度Si3N4ウィンドウ
    検出器にはSi3N4ウィンドウを採用。低エネルギーX線の透過率を最適化しています。
    特に検出が難しい軽元素の高感度分析が可能です
  • 高いX線計数率
    従来のポリマーウィンドウ検出器と比べてSi3N4ウィンドウ検出器はX線計数率がアップしています。迅速なマッピング、検出限界の向上を実現しています。
    
型式・型番 Element
ウィンドウタイプ Si3N4ウィンドウ
検出素子タイプ シリコンドリフト検出器
検出器面積 30mm2
エネルギー分解能 129eV(Mn-Kα)
検出可能元素 Be4〜Am95
価格 ¥4,500,000
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※製品の設置状況や付加機能を分かりやすく表現するため、製品に含まれない商品をあわせて掲載している場合があります。
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